SnS/CdSPlataforma de modelado Entorno privado

SEMICONDUCTORES · PELÍCULA DELGADA

Modelado físico deheterouniones SnS/CdS.

Entorno paramétrico para analizar la arquitectura Al → SnS → CdS → ZnO, la alineación energética, las discontinuidades de banda y la respuesta fotovoltaica de orden reducido.

Configurar modelo
1.1–1.7 eV

SnS · absorbente

≈ 2.42 eV

CdS · ventana/buffer

≈ 3.3 eV

ZnO · capa opcional

01 · ARQUITECTURA

Configura la arquitectura del dispositivo

Modifica la secuencia material y evalúa la contribución física de cada región al transporte y la colección de carga.

Componentes de la estructura
Visualización
Arquitectura actual Al → SnS → CdS → ZnO
Estructura vacíaActiva al menos un componente en los controles superiores.
Electrones → contacto frontal Huecos → Al

02 · ENERGÍA

Alineación energética y parámetros de interfaz

Espesor de películasModifica la escala horizontal

La escala visual está comprimida para que las películas delgadas permanezcan legibles.

χ
Parámetros electrónicosReferencia: Evac = 0 eV

Antes del contacto: EF(SnS) = Ev + 0.25 eV y EF(CdS/ZnO) = Ec − 0.15 eV. En equilibrio se usa el valor común indicado.

A

Brecha de energía

Valores representativos
Activa SnS, CdS o ZnO para comparar su brecha de energía.
SnS seleccionado

Su brecha relativamente pequeña permite absorber una fracción amplia del espectro solar y generar pares electrón–hueco.

En películas delgadas, el SnS reporta aproximadamente 1.1–1.7 eV; el valor cambia con fase, espesor y método de depósito.

B

Alineación de bandas

Modelo de Anderson · Evac = 0
Diagrama de alineación de bandas de la heterounión Bandas de conducción y valencia en SnS, CdS y ZnO, con nivel de Fermi y portadores. Energía
EC · conducción EV · valencia EF · Fermi
En equilibrio: al unir SnS tipo p y CdS tipo n, la difusión inicial de portadores crea una región de carga espacial y un campo interno que favorece su separación.
C

Análisis de interfaces

Discontinuidades estimadas con la regla de afinidad electrónica

ΔE = EB − EA

Convención: para A → B, ΔEc = χA − χB y ΔEv = (χA + Eg,A) − (χB + Eg,B). Estimación ideal de Anderson; no incluye dipolos interfaciales, defectos ni intermezcla.

03 · SIMULACIÓN FOTOVOLTAICA

Modelo cuantitativo de orden reducido

AM1.5G · 100 mW cm⁻²

Alcance metodológico: estimación paramétrica preliminar mediante absorción Beer–Lambert, colección efectiva y ecuación de diodo. No sustituye la solución autoconsistente de Poisson y continuidad en SCAPS-1D.

JscmA cm⁻²
VocV
Fill Factor%
Eficiencia η%
Jsc = Jph,max · Tventana · ∫G(x)Pcol(x)dx Voc = nkT/q · ln(Jsc/J0 + 1) η = JscVocFF / Pin
D

Perfil espacial

Generación normalizada y probabilidad de colección

CdS → SnS → Al
Perfil espacial de generación y colección de portadores Curvas normalizadas a través de las capas CdS y SnS.
G(x) normalizadaPcol(x)
E

Análisis de sensibilidad

Respuesta óptica y eléctrica del modelo

Curvas de sensibilidad de eficiencia y corriente Variación calculada de eficiencia y corriente de cortocircuito.
Jscη
VariableJscVocFFη
F

Exportación de resultados

Archivos estructurados para análisis, trazabilidad y documentación doctoral

DAT Archivo tabulado para OriginUna cabecera con nombres y unidades; después, únicamente datos numéricos

Excel: tres pestañas independientes con encabezados, unidades y filtros. Origin: cada archivo contiene un único conjunto tabulado, sin celdas vacías ni texto intercalado.